Строительный каталог - главная страница

ГОСТ 8.593-2009 - ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10-9 до 10-6 м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592.

Наименование документа:	ГОСТ 8.593-2009
Тип документа:	ГОСТ
Статус документа:	действующий (Введен впервые)
Название рус.:	ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
Дата актуализации текста:	17.06.2011
Дата введения в действие:	01.11.2010
Дата добавления в базу:	17.06.2011
Разработан в:	ОАО "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" МФТИ (ГУ) ФГУ "Российский научный центр "Курчатовский институт"
Утверждён в:	Ростехрегулирование (05.04.2010)
Опубликован в:	Стандартинформ № 2010
Оглавление:	1 Область применения 2 Нормативные ссылки 3 Термины и определения 4 Операции и средства поверки 5 Требования к квалификации поверителей 6 Требования безопасности 7 Условия поверки и подготовка к ней 8 Проведение поверки 9 Обработка результатов измерений 10 Оформление результатов поверки
Расположен в:	Другие национальные стандарты   17 Метрология и измерения. Физические явления
Читать текст "ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки"

Навигационное меню:      Каталог стандартов (ГОСТы)